Méthodes pour l'essai du CMOS
1) typologie d'essai :
L'essai d'un morceau peut arriver au niveau de la gaufrette, le morceau, sideburn et de système cependant avant qu'elle vienne en panne caractérisé, plus petit la matrice est la perte de moneies dérivant de cette panne. Les essais peuvent être divisés dans deux grandes catégories, l'essai de fonctionnalité et l'essai de fabrication.
2) essai de fonctionnalité :
C'est un visage d'essai pour vérifier que le morceau dans le son l'intégralité met en application la fonction efficacement pour ce qui a été développée, afin d'effectuer une telle vérification serait nécessaire pour s'appliquer à toutes les combinaisons possibles des revenus mais afin de faire cela dans le cas des systèmes que beaucoup de complexes pourraient être nécessaires des années, puis sont fait moi emploient de la hiérarchie inhérente au système afin de vérifier les modules singulièrement
3) essai de fabrication :
C'est un visage d'essai pour vérifier que chaque porte actuelle dans le morceau les travaux comme visionné préalablement, devient dans combien le processus de la fabrication de l'endroit nécessaire d'élasticité de bidon de morceau aux défauts aiment suivre :
) court-circuite entre de diverses couches de métal
b) ouvertures interrompues
c) oxyde de porte en bref vers le substrat ou le puits
Les essais viennent sont exécutés au niveau de la gaufrette et vérifient également les niveaux des évasions et les revenus, la vitesse et l'absorption.
4) modèles de panne :
Les défauts qui peuvent être présentés au cours de la production sont des courts-circuits et des circuits ouverts, ils viennent échec d'appel à vous tandis que leur modellizzazione vient défaut appelé, entre le possible censurent sont eus :
) à Stuck-at-0
b) Stuck-at-1
c) Coller-s'ouvrent
d) Coller-court-circuité
Ébauche de toutes les pannes qui doivent être modellizzati au niveau du MOS.
Un des effets typiques de ce type de pannes sur les circuits CMOS est qu'elles peuvent faire pour devenir sequenziale par circuit de combinatorio.
5) Osservabilità, contrôlabilité et couverture :
Un osservabilità d'un noeud intérieur au circuit est le degré avec lequel il est réussi pour observer de l'évasion son état, alors que la contrôlabilité est une mesure des capacités au settare par noeud à 0 ou à 1. La couverture des pannes est à la place une mesure de la qualité d'un programme d'essai, en fait pour un nombre de données de porteurs qu'il applique à vous est arrangé en bas de ce pourcentage des noeuds intérieurs vient tête, un tel pourcentage est sequenzialmente obtenu plaçant chaque noeud intérieur au circuit avant à 0 et puis à 1, et les évasions viennent comparé à ceux d'un settato de morceau pas, s'il y a des anomalies a un défaut, le pourcentage de la trouvaille de défaut à vous concernant ceux simulent à vous expriment la couverture des pannes.
6) ATPG :
L'ébauche des méthodes qui produisent des porteurs de l'essai (automatiquement…générateur de carte-test automatique), toutes est basée sur une simulation du circuit qu'elle peut dans chaque noeud assumer de 5 à 10 divers états au deuxième de l'ATPG, vu environ un à 5 états qu'ils sont :
) à 0
b) 1
c) X mettez 't Beloveds
d) D vaut la peine 1 pour une machine fonctionnante et 0 pour une machine en panne
et) 
est nié de D vaut la peine
donc 0 pour un fonctionnement de machine et 1 pour une machine en
panne
Afin de le voir pendant qu'ils viennent produit de vous les porteurs d'essai que nous faisons à référence le circuit
Nous supposons de devoir caractériser un S-A-0 au noeud h que donc il aura la valeur de D, poursuivons les deux objets à vous intermédiaire :
) settare que le noeud h au D évaluent au moyen d'un ensemble de revenus primaires
siccome que nous voulons caractériser un S-A-0 évidemment les travaux à la machine correctement si nous réussissons pour placer h à 1, à un tel raisonnement de but avec les tables de la vérité des portes logiques regarde cela les revenus {à, b, c, d} peuvent également être {1.1.1.0} op {1.1.0.1}
b) propagare D du noeud h à une des évasions primaires qui sont directement chose observable
de sorte qu'il puisse vérifier que h il est à 1 il est nécessaire qu'et il soit le 1 après que tout donc porteur des revenus doive être {1.1.1.0.1} ou {1.1.0.1.1}
De la manière analogue ils obtiennent des porteurs de revenu que le S-A-1 pour le même noeud vérifie après quoi les autres noeuds sont estimés des porteurs pour tous, ont par le passé trouvé cette intégralité beaucoup la grande, est essayés de trouver le minimum avec des porteurs de revenu qui couvrent tous les noeuds.
On l'observe que l'état peut être
utile dans les caisses dans lesquelles un noeud de données s'avère
inosservabile.
7) classification des pannes et de la simulation :
Le noeud à l'essai vient endroit à 0 avant et puis à 1, elles viennent vous applique vous des porteurs d'essai de respect à vous et le primarie d'évasions confronté avec ceux produits à partir du circuit en lequel aucun noeud n'a été arbitrairement placent à 1 ou à 0.
S'il y a des anomalies que la panne a été caractérisée et elle est passée au prochain noeud. Le processus exige donc S K= KN fait un cycle totalement de l'horloge où K est le nombre de noeuds pour mettre en panne et N est le nombre moyen de porteurs d'essai, un tel nombre de cycles peut devenir très haut peut donc être réexécuté à un parallèle de simulation ou à la simulation concourante.
8) stratégies de la planification orientées à l'essai :
Le plan orienté à l'essai est basé sur une des approches suivantes :
) à l'essai à-to-Hoc
L'ébauche des temps de stratégies de réduire la manifestation de combinatoria de l'essai, entre ces derniers est :
a1) au partizionare les circuits de sequenziali des dimensions a élevé à l'exemple un contatore au bit 8 que des demandes 256 porteurs d'essai peuvent être subdivisé dans le contatori 2 4 au peu chaque les déesses que seules des demandes 16 porteurs de revenu dans l'ordre est examiné.
a2) pour ajouter des points test de mesure
a3) pour ajouter le multiplexeur qui concourent precaricare des revenus
a4) à concourir facilement pour passer à l'état de remise
b) Essai basé sur le scansion
Il est nécessaire que les 2 conditions suivantes soient vérifiées :
b1) le circuit doit être sensible au niveau qui est la
réponse stationnaire à la variation des revenus ne dépend pas
d'intérieur retarde au système de l'ordre dans lequel les
revenus ont changé soient.
b2) que chaque enregistrement peut être converti dans un décaler-enregistrent le seriale
La base de bloc est le SRL (…verrou de registre à décalage) qu'il peut réaliser à l'aide du verrou deux
D est son revenu et 2T son évasion, un tel bidon de SRL sont placés en cascade en second lieu le contour
D'une telle manière on obtient que chaque revenu est controlable et chaque évasion est observable.
c) Essai d'art de l'auto-portrait
Dans le morceau ils viennent supplémentaire d'avoir des circuits la portée pour exécuter l'essai du circuit
c1) Essai De Signature
E 'un essai basé dessus que j'emploie d'un générateur de pseudorandomico d'ordre
, dans le fattispecie qu'ils viennent applique les porteurs d'essai à vous et les évasions du circuit sont allées pour s'ajouter à la teneur d'un LFSR (…pour tracer le registre à décalage de rétroaction) qui au syndrome de fin contiendra ledit nombre qu'il peut d'une telle manière être comparé au syndrome correct déterminant si le circuit fonctionne correctement ou moins.
C2) BILBO
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L'ébauche de l'union de l'analyse de signature avec les techniques du scansion en particulier sur la base de 2 revenus peut être décidée la modalité de fonctionnement d'un groupe d'enregistrements.